Electromigration Inside Logic Cells
- Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 118
- Udgivet:
- 16. december 2016
- Udgave:
- 12017
- Størrelse:
- 235x155x10 mm.
- Vægt:
- 3376 g.
- 8-11 hverdage.
- 13. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Electromigration Inside Logic Cells
This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.
Brugerbedømmelser af Electromigration Inside Logic Cells
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Electromigration Inside Logic Cells findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621