De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Electromigration Inside Logic Cells

- Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Bag om Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783319488981
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 118
  • Udgivet:
  • 16. december 2016
  • Udgave:
  • 12017
  • Størrelse:
  • 235x155x10 mm.
  • Vægt:
  • 3376 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 13. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Brugerbedømmelser af Electromigration Inside Logic Cells



Find lignende bøger
Bogen Electromigration Inside Logic Cells findes i følgende kategorier: