Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
- Theory and Applications
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 318
- Udgivet:
- 27. august 2016
- Udgave:
- 12014
- Størrelse:
- 235x155x18 mm.
- Vægt:
- 5037 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis.
Brugerbedømmelser af Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621