Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 198
- Udgivet:
- 19. juni 2015
- Udgave:
- 2013
- Størrelse:
- 235x155x12 mm.
- Vægt:
- 3343 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.
Brugerbedømmelser af Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Analog IC Reliability in Nanometer CMOS findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621