De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Bag om VLSI Design and Test for Systems Dependability

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9784431568636
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 800
  • Udgivet:
  • 26. januar 2019
  • Udgave:
  • 12019
  • Størrelse:
  • 155x235x0 mm.
  • Vægt:
  • 1234 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af VLSI Design and Test for Systems Dependability

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

Brugerbedømmelser af VLSI Design and Test for Systems Dependability



Find lignende bøger
Bogen VLSI Design and Test for Systems Dependability findes i følgende kategorier: