VLSI Design and Test for Systems Dependability
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 800
- Udgivet:
- 26. januar 2019
- Udgave:
- 12019
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 1234 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af VLSI Design and Test for Systems Dependability
This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.
Brugerbedømmelser af VLSI Design and Test for Systems Dependability
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen VLSI Design and Test for Systems Dependability findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621