Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 148
- Udgivet:
- 30. juni 1989
- Udgave:
- 1989
- Størrelse:
- 234x156x11 mm.
- Vægt:
- 910 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Brugerbedømmelser af Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation findes i følgende kategorier: