De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

af Vishwani D. Agrawal, Kwang-Ting (Tim) Cheng

indgår i The Springer International Series in Engineering and Computer Science serien

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation af Vishwani D. Agrawal
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780792390251
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 148
  • Udgivet:
  • 30. Juni 1989
  • Udgave:
  • 1989
  • Størrelse:
  • 234x156x11 mm.
  • Vægt:
  • 910 g.
Leveringstid: 8-11 hverdage
Forventet levering: 8. Oktober 2024

Bag om Vishwani D. Agrawal

Vis alle bøger af Vishwani D. Agrawal

Brugerbedømmelser af Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation findes i følgende kategorier: