De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

- An Analysis of Composition and Strain State

af Andreas Rosenauer

indgår i Springer Tracts in Modern Physics serien

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures af Andreas Rosenauer
Bag om Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783662146187
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 241
  • Udgivet:
  • 13. juni 2013
  • Udgave:
  • 12003
  • Størrelse:
  • 235x155x14 mm.
  • Vægt:
  • 397 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 14. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Andreas Rosenauer

Vis alle bøger af Andreas Rosenauer

Beskrivelse af Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.

Brugerbedømmelser af Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures findes i følgende kategorier: