De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Testing Static Random Access Memories

Testing Static Random Access Memories

- Defects, Fault Models and Test Patterns

af Said Hamdioui

indgår i Frontiers in Electronic Testing serien

Testing Static Random Access Memories af Said Hamdioui
Bag om Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781402077524
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 221
  • Udgivet:
  • 31. marts 2004
  • Udgave:
  • 2004
  • Størrelse:
  • 235x155x14 mm.
  • Vægt:
  • 1150 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 10. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Said Hamdioui

Vis alle bøger af Said Hamdioui

Beskrivelse af Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Brugerbedømmelser af Testing Static Random Access Memories



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Testing Static Random Access Memories findes i følgende kategorier: