Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 259
- Udgivet:
- 25. oktober 2013
- Størrelse:
- 175x238x22 mm.
- Vægt:
- 598 g.
- Ukendt - mangler pt..
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Brugerbedømmelser af Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits findes i følgende kategorier: