De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

indgår i Nato ASI Subseries B: serien

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
Bag om Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781461595397
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 319
  • Udgivet:
  • 1. januar 1989
  • Udgave:
  • 11988
  • Størrelse:
  • 244x170x17 mm.
  • Vægt:
  • 575 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 10. december 2024

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Brugerbedømmelser af Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods findes i følgende kategorier: