De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Semiconductor Material and Device Characterization

Semiconductor Material and Device Characterization

af Dieter K. (Arizona State University) Schroder

indgår i Wiley - IEEE serien

indgår i IEEE Press serien

Semiconductor Material and Device Characterization af Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Bag om Semiconductor Material and Device Characterization

This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780471739067
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 800
  • Udgivet:
  • 17. februar 2006
  • Udgave:
  • 3
  • Størrelse:
  • 243x164x51 mm.
  • Vægt:
  • 1324 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Dieter K. (Arizona State University) Schroder

Vis alle bøger af Dieter K. (Arizona State University) Schroder

Beskrivelse af Semiconductor Material and Device Characterization

This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.

Brugerbedømmelser af Semiconductor Material and Device Characterization



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Semiconductor Material and Device Characterization findes i følgende kategorier: