De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

- Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

indgår i Springer Series in Chemical Physics serien

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
Bag om Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642822582
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 506
  • Udgivet:
  • 10. januar 2012
  • Udgave:
  • 11984
  • Størrelse:
  • 235x155x27 mm.
  • Vægt:
  • 801 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 11. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.

Brugerbedømmelser af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV findes i følgende kategorier: