Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
- Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 506
- Udgivet:
- 10. januar 2012
- Udgave:
- 11984
- Størrelse:
- 235x155x27 mm.
- Vægt:
- 801 g.
- 8-11 hverdage.
- 27. november 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.
Brugerbedømmelser af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621