Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 616
- Udgivet:
- 13. oktober 2014
- Størrelse:
- 161x238x31 mm.
- Vægt:
- 1078 g.
- 2-3 uger.
- 14. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This title covers achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies.
Brugerbedømmelser af Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621