Scanning Probe Microscopy
- Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 282
- Udgivet:
- 28. juni 2006
- Udgave:
- Størrelse:
- 234x156x17 mm.
- Vægt:
- 1310 g.
- 8-11 hverdage.
- 17. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621
