Scanning Probe Microscopy
- Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 382
- Udgivet:
- 25. februar 2015
- Udgave:
- 2015
- Størrelse:
- 245x164x26 mm.
- Vægt:
- 746 g.
- Ukendt - mangler pt..
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.
Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621