De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Scanning Probe Microscopy

Scanning Probe Microscopy

- Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

af Bert Voigtlander

indgår i NanoScience and Technology serien

Scanning Probe Microscopy af Bert Voigtlander
Bag om Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783662452394
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 382
  • Udgivet:
  • 25. februar 2015
  • Udgave:
  • 2015
  • Størrelse:
  • 245x164x26 mm.
  • Vægt:
  • 746 g.
  • Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Bert Voigtlander

Vis alle bøger af Bert Voigtlander

Beskrivelse af Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

Brugerbedømmelser af Scanning Probe Microscopy



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Probe Microscopy findes i følgende kategorier: