De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

- A Laboratory Workbook

af John Armstrong, David B. Williams, Patrick Echlin, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Alton D. Romig Jr., Charles Fiori
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy af John Armstrong
Bag om Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780306435911
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 407
  • Udgivet:
  • 31. august 1990
  • Udgave:
  • 11990
  • Størrelse:
  • 246x302x25 mm.
  • Vægt:
  • 726 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om John Armstrong

Vis alle bøger af John Armstrong

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy



Andre købte også..