De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Scanning Electron Microscopy

- Physics of Image Formation and Microanalysis

Bag om Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783540639763
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 529
  • Udgivet:
  • 17. september 1998
  • Udgave:
  • 21998
  • Størrelse:
  • 242x166x34 mm.
  • Vægt:
  • 954 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 7. december 2024
På lager

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy



Find lignende bøger
Bogen Scanning Electron Microscopy findes i følgende kategorier: