Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Price: 1275.95 DKK
Availability: InStock
Author: Patrick Echlin
ISBN: 9781461349693

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis af Patrick Echlin

Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Bag om Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

Vis mere

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9781461349693

Forlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Indbinding:
Paperback

Sideantal:
689

Udgivet:
31. maj 2013

Udgave:
320033

Størrelse:
182x255x43 mm.

Vægt:
1310 g.

Leveringstid: 8-11 hverdage.
Forventet levering: 16. januar 2025

På lager

Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Kan ikke leveres inden jul.
Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

1.275,95 kr. + Fragt
~~1.275,95 kr.~~

Abonnementspris

1.271,95 kr.

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Patrick Echlin

Vis alle bøger af Patrick Echlin

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis findes i følgende kategorier:

Business og læring