Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
- Third Edition
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 689
- Udgivet:
- 31. januar 2003
- Udgave:
- 32003
- Størrelse:
- 178x255x38 mm.
- Vægt:
- 1684 g.
- Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621