Radiation-induced Soft Error
- A Chip-level Modeling
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 136
- Udgivet:
- 27. november 2010
- Størrelse:
- 157x234x8 mm.
- Vægt:
- 210 g.
- 8-11 hverdage.
- 6. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Radiation-induced Soft Error
A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.
Brugerbedømmelser af Radiation-induced Soft Error
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Radiation-induced Soft Error findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621