Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
indgår i IOP Concise Physics serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 125
- Udgivet:
- 30. april 2018
- Størrelse:
- 189x264x13 mm.
- Vægt:
- 444 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
The increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. This volume discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.
Brugerbedømmelser af Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621