Point Defects in Semiconductors and Insulators
- Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 492
- Udgivet:
- 14. september 2012
- Udgave:
- 12003
- Størrelse:
- 234x156x25 mm.
- Vægt:
- 771 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Point Defects in Semiconductors and Insulators
The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.
Brugerbedømmelser af Point Defects in Semiconductors and Insulators
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Point Defects in Semiconductors and Insulators findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621