Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Hardback
Udsolgt
427,95 kr.

Bag om Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9781558994966

Forlag:
Cambridge University Press

Indbinding:
Hardback

Sideantal:
354

Udgivet:
17. april 2000

Størrelse:
157x23x234 mm.

Vægt:
590 g.

Leveringstid: Ukendt - mangler pt..

Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

427,95 kr. + Fragt
~~427,95 kr.~~

Abonnementspris

423,95 kr.

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 findes i følgende kategorier: