De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

indgår i MRS Proceedings serien

Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588
Bag om Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781558994966
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 354
  • Udgivet:
  • 17. April 2000
  • Størrelse:
  • 157x23x234 mm.
  • Vægt:
  • 590 g.
  • Ukendt - mangler pt..

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 findes i følgende kategorier: