Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
indgår i NATO Science Series B serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 782
- Udgivet:
- 11. september 2013
- Udgave:
- 11979
- Størrelse:
- 252x175x45 mm.
- Vægt:
- 1346 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy.
Brugerbedømmelser af Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621