Noncontact Atomic Force Microscopy
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 440
- Udgivet:
- 23. oktober 2012
- Udgave:
- 12002
- Størrelse:
- 235x155x24 mm.
- Vægt:
- 692 g.
- 8-11 hverdage.
- 6. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Noncontact Atomic Force Microscopy
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);
Brugerbedømmelser af Noncontact Atomic Force Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Noncontact Atomic Force Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621