Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Hardback
8-11 hverdage
2.237,95 kr.

Bag om Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

Vis mere

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9783540431176

Forlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Indbinding:
Hardback

Sideantal:
440

Udgivet:
24. juli 2002

Udgave:
2002

Størrelse:
241x164x35 mm.

Vægt:
912 g.

Leveringstid: 8-11 hverdage.
Forventet levering: 17. januar 2025

Normalpris

2.237,95 kr. + Fragt
~~2.237,95 kr.~~

Abonnementspris

2.233,95 kr.

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

Brugerbedømmelser af Noncontact Atomic Force Microscopy

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Noncontact Atomic Force Microscopy findes i følgende kategorier:

Business og læring > Videnskab