De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Noncontact Atomic Force Microscopy

Bag om Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783540431176
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 440
  • Udgivet:
  • 24. juli 2002
  • Udgave:
  • 2002
  • Størrelse:
  • 241x164x35 mm.
  • Vægt:
  • 912 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 6. december 2024

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

Brugerbedømmelser af Noncontact Atomic Force Microscopy



Find lignende bøger
Bogen Noncontact Atomic Force Microscopy findes i følgende kategorier: