Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 131
- Udgivet:
- 11. marts 2021
- Udgave:
- 12021
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 454 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.
Brugerbedømmelser af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621