De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Bag om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 131
  • Udgivet:
  • 11. marts 2021
  • Udgave:
  • 12021
  • Størrelse:
  • 155x235x0 mm.
  • Vægt:
  • 454 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 10. december 2024

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Brugerbedømmelser af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Find lignende bøger
Bogen Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs findes i følgende kategorier: