Microscopy of Semiconducting Materials 2007
- Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 498
- Udgivet:
- 18. september 2008
- Udgave:
- 2008
- Størrelse:
- 235x155x25 mm.
- 8-11 hverdage.
- 20. november 2024
På lager
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Microscopy of Semiconducting Materials 2007
In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes.
Brugerbedømmelser af Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Microscopy of Semiconducting Materials 2007 findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621