Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
- Origin, Characterization, Control, and Device Impact
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 438
- Udgivet:
- 30. januar 2019
- Udgave:
- 12018
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 718 g.
- 8-11 hverdage.
- 17. januar 2025
På lager
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
Brugerbedømmelser af Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621