De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Kelvin Probe Force Microscopy

Kelvin Probe Force Microscopy

- Measuring and Compensating Electrostatic Forces

indgår i Springer Series in Surface Sciences serien

Kelvin Probe Force Microscopy
Bag om Kelvin Probe Force Microscopy

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642225659
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 334
  • Udgivet:
  • 21. oktober 2011
  • Udgave:
  • 2012
  • Størrelse:
  • 242x162x25 mm.
  • Vægt:
  • 656 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 17. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Kelvin Probe Force Microscopy

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

Brugerbedømmelser af Kelvin Probe Force Microscopy



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Kelvin Probe Force Microscopy findes i følgende kategorier: