Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
- Instrumentation, Data Analysis and Applications
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 208
- Udgivet:
- 13. april 2022
- Størrelse:
- 246x173x11 mm.
- Vægt:
- 414 g.
- Ukendt - mangler pt..
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Bag om Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Vis alle bøger af Andrew T. S. (National University of Singapore WeeBeskrivelse af Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Brugerbedømmelser af Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials findes i følgende kategorier:
© 2025 Pling BØGER Registered company number: DK43351621
