Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 167
- Udgivet:
- 31. december 1992
- Udgave:
- 1993
- Størrelse:
- 234x156x12 mm.
- Vægt:
- 1000 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).
Brugerbedømmelser af Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621