Identification of Defects in Semiconductors
indgår i Semiconductors and Semimetals serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 376
- Udgivet:
- 2. juli 1998
- Størrelse:
- 152x229x25 mm.
- Vægt:
- 800 g.
- 2-3 uger.
- 11. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Identification of Defects in Semiconductors
Since its inception in 1966, the series of numbered volumes known as "Semiconductors and Semimetals" has distinguished itself through the selection of authors, editors, and contributors. Reflecting the interdisciplinary nature of the field that the series covers, these volumes are aimed at physicists, chemists, materials scientists, and others.
Brugerbedømmelser af Identification of Defects in Semiconductors
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Identification of Defects in Semiconductors findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621