High-Resolution X-Ray Scattering
- From Thin Films to Lateral Nanostructures
indgår i Advanced Texts in Physics serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 408
- Udgivet:
- 27. august 2004
- Udgave:
- 22004
- Størrelse:
- 234x156x23 mm.
- Vægt:
- 860 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af High-Resolution X-Ray Scattering
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.
Brugerbedømmelser af High-Resolution X-Ray Scattering
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen High-Resolution X-Ray Scattering findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621