High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 197
- Udgivet:
- 5. juli 2017
- Udgave:
- 12018
- Vægt:
- 4557 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
Brugerbedømmelser af High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621