Helium Ion Microscopy
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 526
- Udgivet:
- 16. juni 2018
- Udgave:
- 12016
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 836 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Helium Ion Microscopy
This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field.
Brugerbedømmelser af Helium Ion Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Helium Ion Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621