Field-Ion Microscopy
indgår i Crystals serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 118
- Udgivet:
- 7. december 2011
- Udgave:
- 11982
- Størrelse:
- 244x170x7 mm.
- Vægt:
- 242 g.
- 8-11 hverdage.
- 7. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Field-Ion Microscopy
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.
Brugerbedømmelser af Field-Ion Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Field-Ion Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621