Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
indgår i NATO Science Series B serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 412
- Udgivet:
- 13. oktober 2011
- Udgave:
- 11989
- Størrelse:
- 244x170x22 mm.
- Vægt:
- 734 g.
- 8-11 hverdage.
- 18. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.
Brugerbedømmelser af Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621