Electron Beam Testing Technology
indgår i Microdevices serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 462
- Udgivet:
- 4. juni 2013
- Udgave:
- 11993
- Størrelse:
- 254x178x24 mm.
- Vægt:
- 905 g.
- 8-11 hverdage.
- 20. november 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Electron Beam Testing Technology
Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.
Brugerbedømmelser af Electron Beam Testing Technology
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Electron Beam Testing Technology findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621