De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

af Cher Ming Tan

indgår i SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology serien

indgår i SpringerBriefs in Reliability serien

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level af Cher Ming Tan
Bag om Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9789814451208
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 103
  • Udgivet:
  • 4. maj 2013
  • Udgave:
  • 2013
  • Størrelse:
  • 155x235x6 mm.
  • Vægt:
  • 1883 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 10. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Cher Ming Tan

Vis alle bøger af Cher Ming Tan

Beskrivelse af Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Brugerbedømmelser af Electromigration Modeling at Circuit Layout Level



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Electromigration Modeling at Circuit Layout Level findes i følgende kategorier: