Design for Testability, Debug and Reliability
- Next Generation Measures Using Formal Techniques
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 164
- Udgivet:
- 20. april 2021
- Udgave:
- 12021
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 454 g.
- 8-11 hverdage.
- 7. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Design for Testability, Debug and Reliability
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
Brugerbedømmelser af Design for Testability, Debug and Reliability
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Design for Testability, Debug and Reliability findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621