De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Computer og IT
  5. Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Delay Fault Testing for VLSI Circuits

af Angela Krstic, Kwang-Ting (Tim) Cheng

indgår i Frontiers in Electronic Testing serien

Delay Fault Testing for VLSI Circuits af Angela Krstic
Bag om Delay Fault Testing for VLSI Circuits

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781461375616
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 191
  • Udgivet:
  • 31. oktober 1998
  • Udgave:
  • 11998
  • Størrelse:
  • 235x155x11 mm.
  • Vægt:
  • 326 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 6. december 2024
På lager

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Angela Krstic

Vis alle bøger af Angela Krstic

Beskrivelse af Delay Fault Testing for VLSI Circuits

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

Brugerbedømmelser af Delay Fault Testing for VLSI Circuits



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Delay Fault Testing for VLSI Circuits findes i følgende kategorier: