Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
- Nano-Electronic Semiconductor Devices
indgår i NATO Science Series II serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 492
- Udgivet:
- 27. januar 2006
- Udgave:
- 2006
- Størrelse:
- 235x155x25 mm.
- Vægt:
- 1560 g.
- 8-11 hverdage.
- 12. februar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.
Brugerbedømmelser af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks findes i følgende kategorier:
© 2025 Pling BØGER Registered company number: DK43351621