De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

- Nano-Electronic Semiconductor Devices

Bag om Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781402043666
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 492
  • Udgivet:
  • 27. januar 2006
  • Udgave:
  • 2006
  • Størrelse:
  • 235x155x25 mm.
  • Vægt:
  • 1560 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 12. februar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

Brugerbedømmelser af Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks



Find lignende bøger
Bogen Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks findes i følgende kategorier: