De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

af Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

indgår i Frontiers in Electronic Testing serien

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits af Manoj Sachdev
Bag om Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780387465463
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 328
  • Udgivet:
  • 4. juni 2007
  • Udgave:
  • 22007
  • Størrelse:
  • 234x156x20 mm.
  • Vægt:
  • 694 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 10. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Manoj Sachdev

Vis alle bøger af Manoj Sachdev

Beskrivelse af Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

Brugerbedømmelser af Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits findes i følgende kategorier: