CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
- Process-Aware SRAM Design and Test
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 194
- Udgivet:
- 1. maj 2008
- Udgave:
- 2008
- Størrelse:
- 239x166x19 mm.
- Vægt:
- 468 g.
- 8-11 hverdage.
- 25. november 2024
På lager
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.
Brugerbedømmelser af CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621