De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

indgår i MRS Proceedings serien

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Bag om CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781107408326
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 194
  • Udgivet:
  • 5. juni 2014
  • Størrelse:
  • 152x229x10 mm.
  • Vægt:
  • 27 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 7. december 2024
På lager

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 findes i følgende kategorier: