Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry
- Principles and Applications
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 380
- Udgivet:
- 28. juni 2013
- Størrelse:
- 243x165x21 mm.
- Vægt:
- 762 g.
- Ukendt - mangler pt..
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry
This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.
Brugerbedømmelser af Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry findes i følgende kategorier:
© 2025 Pling BØGER Registered company number: DK43351621