De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

- Principles and Applications

Bag om Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780470886052
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 380
  • Udgivet:
  • 28. juni 2013
  • Størrelse:
  • 243x165x21 mm.
  • Vægt:
  • 762 g.
  • Ukendt - mangler pt..

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Brugerbedømmelser af Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry



Find lignende bøger
Bogen Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry findes i følgende kategorier: