Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
indgår i NATO Science Series B serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 589
- Udgivet:
- 16. december 2012
- Udgave:
- 11980
- Størrelse:
- 254x178x31 mm.
- Vægt:
- 1156 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.
Brugerbedømmelser af Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621