Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 89
- Udgivet:
- 22. september 2011
- Udgave:
- 2012
- Størrelse:
- 234x156x5 mm.
- Vægt:
- 180 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).
Brugerbedømmelser af Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621