De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

- Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

af Hui Xie, Cagdas Onal, Stephane Regnier, Metin Sitti

indgår i Springer Tracts in Advanced Robotics serien

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics af Hui Xie
Bag om Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642203282
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 344
  • Udgivet:
  • 22. september 2011
  • Udgave:
  • 2011
  • Størrelse:
  • 235x155x25 mm.
  • Vægt:
  • 771 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 11. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Hui Xie

Vis alle bøger af Hui Xie

Beskrivelse af Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

Brugerbedømmelser af Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics findes i følgende kategorier: