Atom Probe Field Ion Microscopy
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 520
- Udgivet:
- 19. september 1996
- Størrelse:
- 164x242x33 mm.
- Vægt:
- 1042 g.
- 2-4 uger.
- 19. december 2024
På lager
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Atom Probe Field Ion Microscopy
A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.
Brugerbedømmelser af Atom Probe Field Ion Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atom Probe Field Ion Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621